下载耐等离子体半导体零部件和形成方法、等离子体反应装置的技术资料

文档序号:33504986

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及半导体加工技术领域,具体公开了耐等离子体腐蚀的半导体零部件的形成方法,包括:提供第一衬底,其内具有贯通的第一通孔;在第一通孔内形成第二衬底;在第一衬底和第二衬底上形成致密的耐腐蚀涂层;对耐腐蚀涂层和第二衬底进行局部加热处理,形成贯...
该专利属于中微半导体设备(上海)股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中微半导体设备(上海)股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。