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本发明提供一种芯片功能性测试单元、测试方法、芯片和自动测试系统，测试单元包括多个外设功能模块、GPIO复用功能模块和自测试模块；自测试模块，用于在被测芯片的功能测试阶段，通过自测试模式控制所有外设功能模块到GPIO复用功能模块的输出接口信号...
该专利属于武汉杰开科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉杰开科技有限公司授权不得商用。

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