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本发明公开了一种基于EBSD图谱的材料组织各向异性统计方法，通过EBSD获取材料组织的反极图并对其进行以下处理：去除反极图边缘，保留晶粒像素点及三个顶点像素点，然后将其按面积均分为多个分区；以各分区中的像素点数量在所有像素点数量中的占比作为...
该专利属于中国科学院上海应用物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海应用物理研究所授权不得商用。

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