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本发明属于物质检测技术领域，公开了一种样品分析方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：根据获取到的X射线光电子能谱图确定目标元素对应的相对原子百分含量；根据相对原子百分含量确定目标元素对应的综合灵敏度因子；根据获取到的反射电子能量损失谱图确...
该专利属于季华实验室所有，仅供学习研究参考，未经过季华实验室授权不得商用。

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