温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请实施例提供一种相频响应测量方法和装置。该相频响应测量装置至少包括：第一处理单元，其用于将第一信号经过窄带光电检测器后分别与第一参考信号和第二参考信号进行混频去噪，以得到第一检测信号和第二检测信号，其中，测量信号经过光发射端滤波模块后获...
该专利属于富士通株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过富士通株式会社授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。