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本申请实施例提出了一种适用于LED芯片的外观缺陷检测方法、系统及存储介质，该方法包括获取包含潜在外观缺陷的结构化图像，并基于特征识别方式，从结构化图像中定位到LED芯片在图像中所处的坐标位置；根据坐标位置，从结构化图像中分割得到目标检测图像...
该专利属于视睿（杭州）信息科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过视睿（杭州）信息科技有限公司授权不得商用。

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