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本发明提供了一种用于固定式辐射剂量率仪原位校准的方法，包括：在参考辐射场中，对标准设备和拟建数据库型号下的第一待校设备至第n待校设备进行校准，并获取第一放射源产生的第一非扩展齐向场的响应信号，随后建立关于型号
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该专利属于中国计量科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国计量科学研究院授权不得商用。

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