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本申请公开了一种相控阵超声检测方法，使用超声相控阵检测角接结构，在被检测物和超声相控阵阵元表面之间进行介质填充，使来自阵元表面的超声波通过介质材料导波作用到达被检测物，通过超声成像识别角接结构内的材料突变。本申请还包含用于实现所述方法的系统...
该专利属于北京无线电计量测试研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京无线电计量测试研究所授权不得商用。

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