专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
上海精密计量测试研究所
>
一种多通道副载波调制直波模拟源频率参数校准方法技术
>技术资料下载
下载一种多通道副载波调制直波模拟源频率参数校准方法的技术资料
文档序号:33242823
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供一种多通道副载波调制直波模拟源频率参数校准方法,利用多通道副载波调制直波模拟源工作时调相指数β0<<1rad的测试条件,采用基于频谱分析的方法解决多通道副载波调制体制直波信号的频率参数校准问题;本发明可实现复杂调制状态下多通道副载...
该专利属于上海精密计量测试研究所所有,仅供学习研究参考,未经过上海精密计量测试研究所授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。