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本发明公开了高精度预测甚低频电波场强随时间变化的方法，按照以下步骤：步骤1、结合IRI模型获取随高度变化的电离层电子密度N
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该专利属于西安理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安理工大学授权不得商用。

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