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本申请提供了一种外场光谱仪采集数据质量的评估方法及装置，包括：获取光谱仪所采集到的外场光谱辐射测量数据以及至少一项影响因素的外场参数，并确定每项影响因素的校正系数和校正系数的不确定度；利用光谱仪的实验室定标系数、每项校正系数以及外场光谱辐射...
该专利属于中国计量科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国计量科学研究院授权不得商用。

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