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本发明提出一种基于改进YOLOv5算法的PCB表面缺陷检测方法。该方法包括：对原始的PCB数据集进行预理，建立YOLOv5算法的网络结构；根据GIoU确定YOLOV5网络损失函数和性能评价指标；改进了网络结构的处Neck部分，加入自适应特征...
该专利属于桂林电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过桂林电子科技大学授权不得商用。

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