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本实用新型提供一种左右崩边检测装置及硅片检测分选设备，其中，左右崩边检测装置包括：左检测机构、右检测机构以及滑轨；左检测机构与右检测机构设置于滑轨上，且两个检测机构相向设置，任一检测机构包括：检测相机、点激光、光源以及调节组件；光源能够相对...
该专利属于苏州天准科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州天准科技股份有限公司授权不得商用。

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