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本发明公开了一种提高NTC温度采样精度的电路及其方法，属于电子产品中的温度测量方法，包括：基准电压VCC端；MCU控制开关电器件，MCU控制开关电器件包括三个并联的第一开关S1、第二开关S2和第三开关S3，基准电压VCC端分别与第一开关S1...
该专利属于福州市瓦涵新能源科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过福州市瓦涵新能源科技有限公司授权不得商用。

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