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本发明公开了一种面向冷冻电子断层图像的特征提取方法，包括：S1获取冷冻电子断层的投影图像以及对应的图像序列；S2预设仿射变换模拟的角度序列；S3根据设定的角度序列，对每一个冷冻电子断层的投影图像进行仿射变换模拟，通过筛选后获得对应的模拟图像...
该专利属于浙江大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大学授权不得商用。

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