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本发明提供了一种基于超声相控阵成像的缺陷分类方法及系统,属于无损检测领域,方法包括:对待测样件采用超声相控阵成像获取超声全矩阵数据;对超声全矩阵数据进行全聚焦处理,根据信号幅值进行色彩编码,获取待测样件的图像;对待测样件的图像进行预处理后输...该专利属于西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)所有,仅供学习研究参考,未经过西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)授权不得商用。