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本申请涉及一种电子元器件划痕缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取样本电子元器件的样本图像集，其中，样本图像集包括有划痕缺陷的样本图像以及无划痕缺陷的样本图像；基于平均精确度的平均值及样本图像集对划痕缺...该专利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））授权不得商用。