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本申请公开了一种信号源分析仪相位噪声校准方法，包括以下步骤：低相噪光频梳通过光学锁频方式锁定在高稳光源上；对低相噪光频梳进行光电变频产生谐波序列电信号；通过滤波提取设定频率的微波载频信号，再对所述微波载频信号进行放大至设定功率；通过程控衰减...
该专利属于北京无线电计量测试研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京无线电计量测试研究所授权不得商用。

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