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本公开提供一种受激辐射损耗显微镜及其显微成像系统，所述显微成像系统包括位移台和位相板，位移台用于承载样品；位相板用于对垂直入射的第一光束和第二光束同时进行相位调制和汇聚，使得所述第一光束和所述第二光束经过所述位相板后，分别在所述显微镜的焦面...
该专利属于中国科学院化学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院化学研究所授权不得商用。

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