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本发明实施例提供一种用于ADC芯片的测试设备及方法，属于芯片测试技术领域。所述设备包括：电源变换模块、运算放大器、以及ATE，所述电源变换模块用于将所述ATE的DPS模块输出的单电源电压变换成满足所述运算放大器的驱动电源需求的双电源电压；所...该专利属于国网信息通信产业集团有限公司国网浙江省电力有限公司国家电网有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过国网信息通信产业集团有限公司国网浙江省电力有限公司国家电网有限公司授权不得商用。