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本申请涉及一种芯片老化补偿方法、装置、SOC芯片及电子设备，属于集成电路技术领域。该方法包括利用电压测量模块测量预设基准电压所对应的当前时刻的测量值；基于当前时刻的测量值和预设第一规则，得到电压测量模块的老化程度；基于电压测量模块的老化程度...
该专利属于海光信息技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海光信息技术股份有限公司授权不得商用。

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