下载一种单元测试方法、系统、电子设备及存储介质的技术资料

文档序号:32938200

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本发明公开了一种单元测试方法、系统、电子设备及存储介质,该单元测试方法包括:获取待测程序;解析待测程序,提取待测程序的待测函数及待测函数的基础信息,并利用开源框架LLVM分析待测程序,将待测程序编译成LLVM中间码;根据每个待测函数的基础信...
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