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本发明公开了毫米波近场成像技术领域的用于毫米波综合孔径辐射计的近场三维成像系统及方法，包括：获取目标场景的毫米波信号；基于毫米波信号构建可见度函数；基于可见度函数反演出不同距离参数下的二维场景图；基于二维场景图构建图像
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该专利属于南京邮电大学南通研究院有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京邮电大学南通研究院有限公司授权不得商用。

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