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本发明公开了一种基于空洞卷积的Unet+++的绝缘子闪络故障识别方法，包括：获取待识别的绝缘子图像，根据所述绝缘子图像得到亮光图像标签图以及绝缘子图像标签图；基于空洞卷积的Unet+++对所述亮光图像标签图进行分割，生成亮光分割图；根据所述...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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