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本说明书实施例提供了一种基于机器学习的芯片性能参数测试方法和装置。该方法的一具体实施方式包括：控制测试机台对同一批次的晶圆进行采样，其中，上述测试机台被设置为，第一部分机台按照第一采样密度采集晶圆上芯片的第一测试用数据，第二部分机台按照第二...
该专利属于筏渡（上海）科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过筏渡（上海）科技有限公司授权不得商用。

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