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本发明公开了一种折反射混合式的形位一体偏折测量方法，属于光学测量技术领域，可实现透明元件上下表面面形与相对位姿的同步测量。该测量系统由屏幕、上相机、下相机和待测元件组成，上、下相机分别获取屏幕图样经待测元件反射与透射后的图像。首先，对上相机...该专利属于中山亚威光电科技有限公司中山复旦联合创新中心所有，仅供学习研究参考，未经过中山亚威光电科技有限公司中山复旦联合创新中心授权不得商用。