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一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路制造技术
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文档序号:32825672
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本发明涉及一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路,包括计算机、测试机、采样元件、调理电路、功耗采集单元和被测电路;测试机包括:数字通道A、直流源、数字通道B和GND/DGS;功耗采集单元包括2路采集通道:通道A和通道B,两通道公用一...
该专利属于中国空间技术研究院所有,仅供学习研究参考,未经过中国空间技术研究院授权不得商用。
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