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一种用于强辐射环境下的点温仪测试抗干扰装置制造方法及图纸
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文档序号:32753347
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本发明提出一种用于强辐射环境下的点温仪测试抗干扰装置,属于测量测试技术领域,包括抗干扰装置主体和液冷循环系统,抗干扰装置主体采用不透光材料制成,抗干扰装置主体为空心柱状,包括抗干扰测量光路和换热通道,抗干扰测量光路为贯穿抗干扰装置主体的通孔...
该专利属于北京强度环境研究所所有,仅供学习研究参考,未经过北京强度环境研究所授权不得商用。
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