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本发明涉及一种芯片老化试验装置，包括箱体、至少一个测试组件，每个测试组件均包括测试腔、循环风道、第一蜂窝板、第二蜂窝板，测试腔内设有若干测试区，每个测试区的两侧内壁均开设有出风口和回风口，第一蜂窝板设置在出风口的沿气流方向的上游的一侧，第二...
该专利属于海拓仪器（江苏）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海拓仪器（江苏）有限公司授权不得商用。

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