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本发明公开了一种平板裂缝天线阵面平面度的确定方法，主要解决现有方法没有考虑在实际工况中阵面平面度的变形误差和制造误差对电性能影响的问题。本发明的方法以天线结构力学分析为基础，根据所构建的阵面平面度变形误差和制造误差与电磁场远场方向图的函数关...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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