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本发明公开了一种用于半导体零件检测的自动检测装置及其使用方法，属于半导体技术领域。一种用于半导体零件检测的自动检测装置，包括安装架，所述安装架上固定有两个矩形平台，所述矩形平台开有半圆形凹槽，所述半圆形凹槽边缘位置安装有若干第一齿轮，所述第...
该专利属于阮庆贤所有，仅供学习研究参考，未经过阮庆贤授权不得商用。

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