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本发明涉及原位纳米力学测试技术领域，公开了一种用于透射电子显微镜原位拉伸实验的样品制备方法，包括以下步骤：S1：设定原位拉伸样品的尺寸；S2：将样品原材料和半分载网放入聚焦离子束系统；S3：利用离子束在原材料上刻蚀出两个相互平行的长方形槽，...
该专利属于浙江大学杭州国际科创中心所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大学杭州国际科创中心授权不得商用。

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