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本申请提出了一种基于主动学习的芯片缺陷检测方法，包括：获取芯片图片集合，芯片图片集合包括标注数据集和未标注数据集；构建芯片缺陷检测骨干网络，并根据其构建损失预测模块；使用芯片图片集合对芯片缺陷检测骨干网络和损失预测模块进行训练；使用损失预测...
该专利属于杭州涿溪脑与智能研究所所有，仅供学习研究参考，未经过杭州涿溪脑与智能研究所授权不得商用。

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