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本公开涉及图像处理技术领域,具体涉及一种目标检测方法及装置、计算机可读存储介质及电子设备,方法包括:获取输入图像,并采用第一卷积层和第二卷积层对输入图像进行特征提取得到参考特征图像;采用第三卷积层对参考特征图像进行特征提取得到第一目标特征图...该专利属于京东方科技集团股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过京东方科技集团股份有限公司授权不得商用。
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本公开涉及图像处理技术领域,具体涉及一种目标检测方法及装置、计算机可读存储介质及电子设备,方法包括:获取输入图像,并采用第一卷积层和第二卷积层对输入图像进行特征提取得到参考特征图像;采用第三卷积层对参考特征图像进行特征提取得到第一目标特征图...