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本申请涉及一种基于知识图谱的代码克隆检测优化方法、装置和电子设备。该方法通过获取多个待检测代码片段，并采用预定筛选策略对其对应的候选代码片段集合进行筛选得到对应初始候选代码片段集合；利用知识图谱的知识对初始获选代码片段进行筛选，得到优化后的...
该专利属于中国人民解放军国防科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军国防科技大学授权不得商用。

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