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本发明公开了一种芯片检验追踪方法及系统，涉及芯片检测技术领域，包括数据上传模块、参数检测模块、设备追踪模块以及若干芯片；当参数检测模块批量检测多个芯片时，数据上传模块用于检测员上传检测请求至上位机，上位机用于将若干个检测任务数据包分发至不同...
该专利属于中大检测（湖南）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中大检测（湖南）股份有限公司授权不得商用。

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