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本发明涉及集成电路检测技术领域，且公开了一种集成电路检测平台及其检测方法，包括检测台，所述检测台的底部固定连接有四个支撑柱，所述检测台顶部固定连接有安装架，所述安装架正面设置有安装框，所述安装框内安装有显示屏，所述安装架的底部固定连接有联动...
该专利属于孔至颢所有，仅供学习研究参考，未经过孔至颢授权不得商用。

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