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本发明提出了一种透平叶片测量方法，通过在叶片表面增加定位标记物，形成可供后期拼接用的基准，先测量完整叶片外形数据，后测量各切割段内外数据，通过形成的基准进行数据拼接，拼接后还可采用光学测量数据进行对比，评估切割前后的对齐精确度，获得位置度准...
该专利属于西安热工研究院有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安热工研究院有限公司授权不得商用。

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