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本发明公开了一种电离层不均匀等离子体的漂移测量方法，包括如下步骤：步骤1，电离层扫频探测；步骤2，根据扫频电离图参数确定定频探测的频率；步骤3，接收端采用边长为60米的正三角形接收阵列得到其他通道与基准通道的频率响应系数；步骤4，对选出的8...该专利属于中国电波传播研究所（中国电子科技集团公司第二十二研究所）所有，仅供学习研究参考，未经过中国电波传播研究所（中国电子科技集团公司第二十二研究所）授权不得商用。