下载用于次半波长光刻构图的改善的散射条OPC应用方法的技术资料

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一种形成具有光学近似修正特征的掩模的方法,包括下述步骤:获得含有要被成像的特征的目标图案,展开所述要被成像的特征的宽度,修改所述掩模以包括辅助特征,所述辅助特征放置在邻近所述要被成像的特征的边缘,其中所述辅助特征具有对应于所述要被成像的特征...
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