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用于模拟光刻过程的方法和装置制造方法及图纸
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文档序号:3238978
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一种模拟光刻过程的方法,包括这些步骤:产生光刻过程的已校准模型,该模型能推断将由该光刻过程在用于含有多个特征的掩模图案成像时产生的像;并确定已校准模型的操作窗口,该操作窗口确定所述已校准模型是否能精确地推断由所述掩模图案中的特定特征产生的像...
该专利属于ASML蒙片工具有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过ASML蒙片工具有限公司授权不得商用。
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