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一种相控阵射频波束指向切换时间测试系统及方法，属于相控阵系统测试技术领域，解决现有的射频波束指向切换时间的测试方法存在的测量不便、步骤复杂、结果不准确的问题；采用同频混频的方式将射频信号混频至零频，把不易观察及测量的射频信号的相位变化，转换...
该专利属于中国电子科技集团公司第三十八研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第三十八研究所授权不得商用。

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