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折射率场重建方法、装置及存储介质制造方法及图纸
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文档序号:32356722
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本发明公开了一种折射率场重建修正方法、装置及存储介质,折射率场重建修正方法包括:对背景导向纹影重建模型的层析投影矩阵弦长进行优化;对背景导向纹影重建模型的光线偏折变换比例进行优化;采用优化后的层析投影矩阵弦长和光线偏折变换比例,计算层析投影...
该专利属于东南大学所有,仅供学习研究参考,未经过东南大学授权不得商用。
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