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本发明公开了一种多重单分子定量检测技术及其检测系统，包括如下步骤：将修饰有第一标记分子的磁珠固定于微流控芯片中，加入待测样品；加入修饰有第二标记分子的半导体聚合物纳米材料；根据荧光信号的数量，对待测样品进行定性或定量。本发明使用半导体聚合物...
该专利属于中山大学所有，仅供学习研究参考，未经过中山大学授权不得商用。

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