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本发明涉及一种光电测量系统的荧光光纤激发效率计算方法，其技术特点是：选取荧光光纤的光纤包层材料的光折射系数、纤芯材料的光折射系数、待测光波长、放电发射光谱约化强度分布、荧光激发光谱约化强度分布，计算光子引起的荧光激发强度；计算光纤对光子的捕...
该专利属于国网天津市电力公司国家电网有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过国网天津市电力公司国家电网有限公司授权不得商用。

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