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本发明公开了一种集成电路电子元器件失效温度筛选装置及方法，其通过设计内热罩和外热罩形成内罩区和外罩区，且通过一升降机构带动内热罩在外热罩内做升降运动，实现内罩区与外罩区的连通或密封设置；并通过温控装置经第一热流控温通道控制内罩区的温度为测试...该专利属于中国船舶重工集团公司第七0九研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国船舶重工集团公司第七0九研究所授权不得商用。
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本发明公开了一种集成电路电子元器件失效温度筛选装置及方法，其通过设计内热罩和外热罩形成内罩区和外罩区，且通过一升降机构带动内热罩在外热罩内做升降运动，实现内罩区与外罩区的连通或密封设置；并通过温控装置经第一热流控温通道控制内罩区的温度为测试...