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低应力的晶片构装制造技术
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文档序号:3225375
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一种低应力的晶片构装,其特征在于,主要包含有: 一载体; 一晶片单元,是由一黏著物的涂布,而以其一端面具有一局部贴接处贴接于该载体上,且该黏著物是自该晶片的中心点向外于四周涂布,并以不涂布至该晶片单元的周缘为原则; 多数的...
该专利属于台湾沛晶股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过台湾沛晶股份有限公司授权不得商用。
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