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高临界温度超导薄膜制备方法技术
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文档序号:3223629
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本发明为高临界温度(90K)超导薄膜制备方法。采用超高真空系统,单个化合物靶,高气压低电压直流磁控溅射,原位外延生长,原位低温热处理制备工艺,用于制备MBa-[2]Cu-[3]O-[7]型高临界温度氧化物超导薄膜(M=Y,Eu,Gd,Tb,...
该专利属于中国科学院物理研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院物理研究所授权不得商用。
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