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本申请涉及一种电离辐射耦合下的NBTI测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：在电离辐射的环境中对样品器件施加步进电压应力；获取每段应力电压对应的阈值电压漂移；根据每段应力电压对应的阈值电压漂移，得到NBTI效应幂指数模型；提取...该专利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））授权不得商用。