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本发明提供了一种基于单像素特征聚类建立集群的液晶屏缺陷检测方法，首先，获取液晶屏RGB三通道图像，还包括S1.获取所述图像各像素点的灰度值及r、g、b通道值，将图像转化为灰度图；S2.对灰度图中的每个像素点进行遍历计算，通过多模态与多尺度的...
该专利属于成都博视广达科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都博视广达科技有限责任公司授权不得商用。

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